Nポート測定の最適化：マルチポートVNAとスイッチマトリックスの比較
多くのエンジニアは、2ポートVNAを外部スイッチマトリックスで拡張してマルチチャネル測定を行っていますが、このアプローチには速度、精度、システム複雑さの面でトレードオフがあります。RFおよび高速デジタルシステムがスケールし続ける中で、これらのトレードオフがいつ重要になるかを理解することは極めて重要です。
この60分ウェビナーでは、スイッチド2ポートと真のマルチポートVNA測定アーキテクチャを明確かつ実践的に比較します。参加者は、スイープ回数、挿入損失、アイソレーション、校正複雑さがアプローチ間でどう異なるか、そしてそれらの違いが実世界の結果にどう影響するかを学びます。ケーブルアセンブリ、ビームフォーミングアレイ、マルチチャネルデバイスの生産テストなど代表的なユースケースを検討することで、エンジニアとテストチームが測定目標に最も適した戦略を選択できるよう支援します。
主要トピック：
- スイッチド2ポートシステムの限界
- 真のNポート測定の実行方法
- 大規模ポート数のための校正戦略
- エンジニアリングおよび生産テストへの影響
技術プレゼンテーションの後、聴衆からのQ&Aセッションを行います。
講演者：
Brian Walker、シニアRFエンジニア、Copper Mountain Technologies
Brian Walker氏はCopper Mountain TechnologiesのシニアRFエンジニア、SMEです。顧客の技術的問題解決とVNAアプリケーションの新ソリューション開発を支援。40年のRF設計経験を持ち、以前はBird ElectronicsでRF設計マネージャーとしてRF設計者チームを指揮し、革新的製品を創出。それ以前はMotorola Component Products Groupで通信デバイス用セラミックコムラインフィルター設計を担当。ニューメキシコ大学卒、IEEEシニアメンバー、米国特許3件取得。
モデレーター：
Amanda Hosey、編集者、SAE Media Group
センサー
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