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N ポート測定の最適化:マルチポート VNA とスイッチ マトリックス

多くのエンジニアは、マルチチャネル測定用に 2 ポート VNA を拡張するために外部スイッチ マトリックスに依存していますが、このアプローチには速度、精度、システムの複雑さのトレードオフが伴います。 RF および高速デジタル システムが拡大し続けるにつれて、これらのトレードオフがどのような場合に重要になるかを理解することが重要です。

この 60 分間のウェビナーでは、スイッチド 2 ポート VNA 測定アーキテクチャと真のマルチポート VNA 測定アーキテクチャ間の明確で実践的な比較を提供します。参加者は、掃引数、挿入損失、絶縁、および校正の複雑さがアプローチによってどのように異なるか、そしてそれらの違いが実際の結果にどのように影響するかを学びます。このセッションでは、ケーブル アセンブリ、ビームフォーミング アレイ、マルチチャネル デバイスの製造テストなどの代表的なユースケースを検討することで、エンジニアとテスト チームが測定目標に最適な戦略を選択するのに役立ちます。

主なトピックは次のとおりです。

技術プレゼンテーションの後には、聴衆の Q&A セッションが行われます。

スピーカー:

Copper Mountain Technologies、シニア RF エンジニア、Brian Walker

Brian Walker は、Copper Mountain Technologies の SME シニア RF エンジニアです。彼は、顧客が技術的な問題を解決し、テストと測定における VNA アプリケーション用の新しいソリューションを開発できるよう支援します。ブライアンは 40 年の RF 設計の経験があります。以前は Bird Electronics で RF 設計のマネージャーを務め、そこで RF 設計者のチームを指揮し、新しく革新的な製品を作成しました。それ以前は、モトローラ コンポーネント製品グループに勤務し、通信デバイス用のセラミックコムライン フィルタの設計を担当していました。ブライアンはニューメキシコ大学で学位を取得しており、IEEE の上級会員であり、3 件の米国特許を執筆しています。

モデレーター:

アマンダ ホージー、SAE メディア グループ編集者


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