NASA開発・高性能UV光電子放出ツール─ 曲面・異形状表面の微量汚染検出で接着信頼性向上
曲面・複雑形状にも対応する表面清浄度分析装置
NASAラングレー研究センターが開発した本装置は、曲面や不規則形状表面の微量汚染を測定可能。汚染の特定・定量化と複数面同時解析という独自機能を備え、軽量航空機などの接着接合信頼性向上に必要な表面清浄度分析を提供します。
測定原理
- 対象表面へ紫外線(UV)を照射
- 微小な電流が発生
- 短時間での電流変化を測定・解析
- 汚染レベルと汚染物質種を特定
NASAは本技術の商業化ライセンシーを募集中。問い合わせ:NASAライセンシング・コンシェルジュ(メール または 202-358-7432)。詳細:こちら
センサー
- サックス:歴史、設計、現代製造
- チューバ:19世紀の革新から現代の職人技へ
- ダルシマー:歴史・設計・職人技、時代を超える楽器
- Winscopeによる高度波形解析:時間領域から周波数領域へ
- AC解析設定:カーブ、ポイント、周波数スイープ設定
- 部品故障解析:直列・並列回路のトラブルシューティング技法
- GD&Tにおける平面度公差の理解:精密部品製造を確実にする
- GD&T解説:ラインプロファイル vs サーフェスプロファイル
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- 深度サーモグラフィ:3D材料の内部温度を精密測定
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