ソフトウェア、品質検査が自動車部品の安全性を実現

ドライバーは気付いていないかもしれませんが、車両のエアバッグとシートベルト バックル システムのケーブル接続は、ODW-Elektrik 製のコンポーネントなしでは機能しません。 ODW-Elektrik は、世界中の自動車で使用される高品質の配線、ソレノイド、およびメカトロニクス システムの開発パートナーおよびサプライヤーであり、その製品のほとんどを Bosch、Autoliv、Brose、VW、および ZF に供給しています。

「OEM が直面する品質要件は高まり続けています。同時に、搭載される電子部品はますます小型化・複雑化しています。これらすべてに加えて、顧客は、ODW-Elektrik を含むサプライヤが、追加の検査なしでインストールできる欠陥ゼロのコンポーネントを提供することをますます期待しています.

ドイツのフランクフルトから東に 60 km の町、シュタイナウ アン デア シュトラーセにある本社だけではありません。ここでは、同社は主にソレノイドとメカトロニクス システムを完全に自動化された生産ラインで製造しており、品質はマケドニア、ハンガリー、ウクライナにある同社の他の拠点でも同様です。

そこでは、同社はワイヤーハーネスと電子アセンブリの製造に重点を置いています。 ODW-Elektrik は、地域の NAFTA 市場に迅速かつ確実に供給するために、2016 年にメキシコに別の拠点を開設しました。マネージング ディレクターにとって、この拡大は確実に報われました。 2010 年以降、ODW-Elektrik の収益は 2 倍になり、従業員数は 900 人から 2,300 人弱に増えました。

何十年もの間、ODW-Elektrik は Zeiss に信頼を寄せ、そのコンポーネントの品質と信頼性を保証してきました。最近、自動車サプライヤーは Zeiss METROTOM 800 コンピュータ断層撮影装置を既存の Zeiss 機器のリストに追加しました。これには、複数の O-SELECT システム、NEO 選択、および NEO インサイト ソフトウェアが既に含まれていました。

経営陣は最終的に METROTOM 800 の購入を決定しました。これは、強化された測定および検査オプションと、NEO インサイト ソフトウェアとの統合が理由でした。

ODW-Elektrik 測定ラボの責任者である Bernd Föller は、これらの追加購入の背後にある考え方について次のように説明しています。さらに、最適な照明とフォーカスが自動的に設定されるため、測定とオペレーターのエラーはほぼ完全に排除されます。そのため、複雑な測定も非常に迅速に実行でき、信頼できる結果が得られます。ソフトウェアは簡単に習得できるため、新入社員のトレーニングを迅速に行うことができました。」

測定ラボの従業員は、次のように O-SELECT を使用して測定を行います。彼は、燃料噴射弁で使用されるソレノイドのフィリグリー部品を検査します。 Föller 氏は、以前はこの部品を検査するために接触測定を使用していましたが、必要な治具は困難で時間がかかることが判明したと説明しました。 O-SELECT を使用すると、クランプは不要です。

オペレーターは、シリアル測定用に部品を配置し、ボタンを押してシステムの自動機能を開始します。これは、バッチ測定以外にも実用的です。 「1 回の測定でも、測定計画の作成でも、数回クリックするだけで必要な特性を選択できます」と Föller 氏は述べています。オペレーターは、サブメニューをナビゲートする代わりに、NEO 選択ソフトウェアを使用して画像内で直接測定し、ほとんどの操作でメイン ウィンドウを離れる必要はありません。

「オペレータは必要なすべての機能と情報を 1 か所にまとめています」と Föller 氏は述べ、測定がさらに簡単になり、同時に信頼性も向上しました。たとえば、O-SELECT は自動的に高コントラストで焦点が合った画像を使用して、円や直線などの潜在的な特徴を識別します。これらのフィーチャのいずれかにカーソルを移動すると、半径、距離、角度などの可能な特性が表示されます。このプロセスは、クリック &ピックと呼ばれます。

Föller は、ODW-Elektrik がこのソフトウェアのさらなる開発に関与したことを誇りに思っています。 「Zeiss は私たちの意見を聞き、フィードバックに基づいてソフトウェアを修正しました。」

将来的に 3D 非接触測定も実行できるようにするため、ODW-Elektrik はシュタイナウの測定ラボに METROTOM を装備しました。品質管理責任者の Thomas Mack 氏によると、この産業用コンピューター断層撮影装置 (CT スキャナー) は優れた機能を提供します。従来の測定技術では、検査に時間がかかり、コンポーネントは層ごとに破壊されます。産業用コンピューター断層撮影は、コンポーネントを破壊することなく、隠れた構造を 3D で視覚化します。

「たった 1 回の X 線スキャンで、コンポーネントをチェックして測定し、必要に応じてさらなる措置を講じるために必要なすべてのデータが得られます」と Mac 氏は言います。 「これには、CMM では見ることができないエア ポケットも含まれています。同様に重要なことは、測定計画の作成が接触測定よりも高速であることです。サンプリング時の測定と分析に必要な時間が最大 75% 短縮されました。

ODW-Elektrik は独自の CT スキャナーに投資する前に、個々のコンポーネントをケルンの Zeiss Metrology Center に送って X 線検査を行い、NEO インサイト ソフトウェアを使用して社内で点群を評価していました。

Mack と Föller はどちらもこのソフトウェアに感心しています。 「直観的なユーザー インターフェイスは、私が見ているポイントを示し、青い糸を使用して測定実行全体をガイドします。これは、NEO select で既に使い慣れた機能です」と Mack 氏は言います。 「さらに、さまざまなメニューをクリックする代わりに、フィルム ゲート内で直接マウスを使用して多くの作業を行うことができます。」

マックが使用する NEO インサイトのその他のハイライトには、自動アライメントと材料検出が含まれます。この場合、さまざまな材料コンポーネントが厚さに基づいて識別され、視覚化されたときに対照的な色が割り当てられます。このソフトウェアを使用すると、オペレーターはオフラインのプログラミング ステーションで作業することもできます。これには、他の会社の場所や、従業員がシュタイナウで実行された CT スキャンから点群を分析するサプライヤーのサイトも含まれます。 Mack 氏は次のように報告しています。 O-SELECT と NEO select をマスターした人なら誰でも、METROTOM で作成され、NEO の洞察で評価されたスキャンをすぐに使い始めることができます。」

測定結果のレポートには、PiWeb と呼ばれる NEO select および NEO インサイトに既に統合されている追加のソフトウェアが使用されます。このソフトウェアは、測定結果の最適な表示と評価を保証し、生産中の品質と効率を向上させるために必要な情報を生成します。ソフトウェアはうまく機能しました。 「100 万分の 1 のレートは 5 未満です」と Mack 氏は言います。 「これは素晴らしい結果です!」

Mack 氏によると、ODW-Elektrik の次のステップは、2018 年に PiWeb sbs にアップグレードすることです。 NEO の洞察により、私たちはそれを行うことができます。最終的に、これにより、プロセスをより適切に管理し、高品質の製品を確実に製造することができます。」 ODW-Elektrik は、2018 年にマケドニアとメキシコのサイト用にさらに 2 つの O-SELECT システムを購入する予定です。

Zeiss Industrial Metrology の詳細については、www.zeiss.com/metrology にアクセスするか、800-327-9735 に電話してください。