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Sn(IV)ドープCdSナノワイヤにおけるフォトルミネッセンスと電子-フォノン結合強化:ドーパント濃度の影響

概要

高品質Sn(IV)ドープCdSナノワイヤを熱蒸着法で合成。XRDとラマン散乱スペクトルでドーピング効果確認。室温フォトルミネッセンス(PL)で近バンドギャップ発光と離散的トラップ状態発光が同時に顕著に出現、不純物による強い励起子トラッピングと光伝送中の電子-フォノン結合に起因と判明。近バンドギャップ発光とトラップ状態発光のPL強度比はCdSナノワイヤ内Sn(IV)ドープ濃度で調整可能。興味深いことに、トラップ状態発光が1LO、2LO、4LOフォノン支援で明確に分離したピーク示し、ドープCdSナノワイヤにおける電子-フォノン結合増強実証。Sn(IV)ドーパント影響はPL寿命崩壊プロファイルでさらに明らか。光学マイクロキャビティも発光プロセス重要役割。結果は1次元(1D)ナノ構造におけるドーピング変調キャリア相互作用、トラッピング、再結合理解に寄与。

はじめに

最近、1次元(1D)ナノワイヤがデバイス構成ブロックと集積ナノシステム両方として機能可能なため注目集める[1-4]。特に、室温で直接バンドギャップ2.6 eV持つCdS等1D単結晶ワイドバンドギャップII-VI半導体が、優れたフォトニクス、エレクトロニクス、オプトエレクトロニクス特性で広く研究[5-8]。CdSナノワイヤ/ナノベルトレーザー、光導波路、フォトディテクタ、電界効果トランジスタ、論理デバイス多数報告[5-8]。ナノメートルスケールで電子-正孔プラズマ、電子-フォノン結合、励起子-フォノン散乱、励起子-励起子相互作用、励起子ポラリトン等多く固有キャリア相互作用が新たな形で作用[9-13]。関連相互作用強度はナノ構造サイズに強く依存、光学/オプトエレクトロニクス特性大きく影響[14]。量子閉じ込め効果と電子-フォノン結合が局在状態導入時特に重要。

サイズ調整または組成調整によるバンドギャップエンジニアリング通常可変レーザー発光波長/色実現採用。電子-LOフォノン結合定数0.65極性半導体として、CdSナノ構造励起子エネルギー修正強いフレーリッヒ相互作用と変形ポテンシャル期待[15]。例:Zouら[16]単一CdSナノワイヤ室温バイポラロニック励起子刺激放出報告。Lieberら[17]CdSナノワイヤ75 Kまで励起子-励起子相互作用レーザー、高温励起子-フォノンプロセス報告。さらに、電子-正孔プラズマ(EHP)とファブリペロ(F-P)光共振プロセスも整列CdSナノワイヤ刺激放出責任可能、調整可能波長範囲狭くEHP多くナノワイヤ損傷[18]。これら例示す通り、1D軸方向光伝播沿いフレーリッヒ電子-フォノン結合調整が可変発光/レーザー波長実現妥当手法。最近、Snナノワイヤテンプレート経路熱アニールで分枝CdSナノワイヤ成長、興味深い光導波路特性示す[19]。

本論文ではSnO2を触媒兼ドーパント使用しSn-CdSナノワイヤ合成、異常PLと電子-フォノン結合特性報告。近バンドギャップ発光とギャップ内発光が合成ナノワイヤPLで同時出現。後者は空洞関連導波路モード示す。これら現象理由はSn(IV)がCdSナノワイヤドープし多数トラッピングセンター生成。電子-フォノン結合が導波路と広範囲色調整伴う異常発光増強導く。

手法

SnドープCdSナノワイヤ合成

熱蒸着法でSnドープCdSナノワイヤ合成。市販CdSとSnO2粉末1:1重量比で30分研磨混合、ソース材料としてアルミナセラミックボート載せ石英管中央配置。CdSとSnO2粉末重量比変更で異なるSnドーパント濃度CdSナノワイヤ成長。触媒なしクリーンSiウェハを下流域配置し製品回収。Ar(95%)/H2(5%)混合キャリアガス定流量10 SCCM(標準立方センチメートル/分)で石英管導入、加熱前O2除去。H2還元雰囲気生成、酸化防止とCdSナノワイヤ収率向上。炉10分で1000℃急速加熱、条件変更なし60分維持後自然冷却室温。合成製品はソース材料から5 cm離れたゾーン、局所成長温度400–450℃範囲でSi基板表面と石英管内壁に発見。

構造と光学特性評価

得られた製品の構造、形態、組成を粉末X線回折(XRD、Bruker D8 Advance)、走査型電子顕微鏡(SEM、JSM-6700F)、エネルギー分散型分光器(EDS)で評価。ラマン散乱スペクトルは共焦点顕微鏡(LABRAM-010)でHe-Neレーザー(632.8 nm)励起光源使用、試料上3 μm径スポット集光実施。光導波路とPLは市販走査型近接場光学顕微鏡(SNOM、Alpha 300、WITec)実施。SNOMはナノ構造高空間分解能光学像取得と同時PLスペクトル測定可能。この装置で焦点合わせAr+レーザー(488 nm)ビームを石英基板上事前堆積単一ナノワイヤ照射。対物レンズ通しカラーCCDで光学像回収。単一SnドープCdSナノワイヤ全体からPLスペクトル直接回収し蛍光分光器結合。すべて光学実験で励起信号試料表面垂直照射。

結果と考察

図1a, bは初期段階と60分成長時ナノワイヤ形態像。初期段階ナノワイヤ通常先端に大きな球、長いワイヤ接続。ナノワイヤ直径200 nm–2 μm、長さ数百μm。EDS解析で球はSn(図1c)、ワイヤ主にCdS(図1d)示す。驚くべきことにCd:S常に1未満。Cd元素上シェイクアップピークがワイヤ内Sn分布可能性示唆、EDS直接区別不能。SnO2がSnまたはSn(IV)とO2分解、CdS粉末高温でCd、S、CdS蒸気形成公知。分解生成Snが気体または微小液滴(融点232℃、沸点2602℃)形態存在可能。キャリアガスで低温ゾーン輸送、液層堆積、到達CdS蒸気反応しSn-CdS液体合金層形成、ドープCdSナノワイヤ成長開始。したがってナノワイヤは気液固(VLS)成長プロセス従う[20]、Sn触媒粒子/液滴が合金層CdSとSn蒸気継続回収限りCdSナノワイヤ成長担う。ナノワイヤ初期段階カエル幼生様形態、表面平滑。Liuら[21]微小Sn触媒と第2核生成サイト使用分枝CdSナノ構造合成。我々実験でSn拡散しCdSナノワイヤ格子ドープ、第2核生成サイト析出超飽和未達。因此調製製品分枝接合なし直線形態保持。

Sn(IV)ドープCdSナノワイヤにおけるフォトルミネッセンスと電子-フォノン結合強化:ドーパント濃度の影響
a, b 初期段階と60分成長後SnドープCdSナノワイヤSEM。aインセット代表ナノワイヤ拡大倍率。c, d 先端球とバックボーンナノワイヤEDS

調製ナノワイヤX線回折パターン図2示す。結晶学的相は格子定数a = 4.141 Å、c = 6.720 Åウルツァイト六方晶系CdS(JCPDSカード: 41-1049)と良好一致。したがって調製ナノワイヤウルツァイトCdS指定可能。さらに、Sn回折ピーク(JCPDSカード: 4-673、四方晶系、格子定数a = 5.831 Å、c = 3.182 Å)明確観察、CdSナノワイヤ先端大量Sn存在示唆。強烈鋭い回折ピークが調製ナノワイヤ高結晶品質示す。

Sn(IV)ドープCdSナノワイヤにおけるフォトルミネッセンスと電子-フォノン結合強化:ドーパント濃度の影響
SnドープCdSナノワイヤX線回折パターン

図3a, bは室温異なるドーパント濃度単一ナノワイヤマイクロラマン散乱スペクトル。296と592 cm−1強い2ピークはCdS 1LOと2LO帰属[22]。Z軸分極が電子/励起子と強く結合。横方向フォノン閉じ込めと縦方向基本励起(励起子と光子)便利輸送により、1D半導体構造電子-LOフォノン結合強度大幅強化可能。半導体電子-フォノン結合強度はオーバートンフォノン基本フォノン強度比(I2LO/I1LO)評価可能[23]。我々結果で大きいI2LO/I1LO強度比(1.67)が純粋1D CdSナノワイヤ(1.52)より強い電子-LOフォノン結合反映。他4フォノンモード(208, 320, 337, 357 cm−1)観察、CdS固有フォノンモードでない。慎重検討後、これらモードはドープSn(IV)S2のEg、A1g、A2u(TO)、A2u(LO)不純物振動モード指定[24, 25]。非常に興味深く、SnS2のIR活性モード(A2u(TO), A2u(LO))がラマンスペクトル観察可能、電子支援下選択則大幅緩和、すなわちキャリアトラッピング示唆。結晶単軸でフォノン伝播方向が結晶主軸沿わない場合、電子-フォノンまたは励起子-フォノン相互作用で赤外線とラマンモード両方同時活性化可能[26]。Snドーパントによる結晶変形増大と周辺構造揺らぎが赤外線モード弱活性化に部分的寄与[27]。A2uは音響モード、出現は電子-局所音響フォノン顕著相互作用示唆、Sn-CdSナノワイヤ異常発光特性部分的寄与。観察不純物振動モードがSn(IV)が定量ナノワイヤ内ドープ成功、光学特性大幅改変示唆。Sn-CdSナノワイヤX線光電子分光(XPS)測定実施。しかしXPS空間分解能低く、検出Sn含有量が先端球由来かバックボーンナノワイヤ由来か区別不能。さらにSn含有量低くEDS検出不能。ここではラマンスペクトル使用しバックボーンナノワイヤSn濃度高低定性的決定。ラマンスペクトル示す通り、CdSモード対SnS2モード強度比がソース粉末SnO2対CdS比増加で減少、高ドープSn濃度定性的示唆。

Sn(IV)ドープCdSナノワイヤにおけるフォトルミネッセンスと電子-フォノン結合強化:ドーパント濃度の影響
a, b CdS対SnO2高比と低比合成単一SnドープCdSナノワイヤマイクロラマン散乱スペクトル、He-Neレーザー(632.8 nm)励起光源使用

PL測定は半導体ナノ構造構造欠陥と不純物決定に強力。弱フレーリッヒ電子-フォノン結合系でドーパント導入時、形成ポテンシャルと光子-フォノン結合係数影響しPL変調。ドーパント深準位位置時発光バンド多フォノンレプリカ示す。強結合系で励起子発光バンド広帯域またはディープトラップ状態サテライトバンドへ崩壊。単一直線Sn-CdSナノワイヤ(ドーパント濃度<0.01%)光導波路とPLスペクトル測定、近バンドギャップ発光対トラップ状態発光強度比据えドーピング効果と電子-フォノン結合探索。単一Sn-CdSナノワイヤインシチュPL非常に強く、カラーCCDカメラで容易撮像、肉眼可視(図4a)。対応Sn-CdSナノワイヤ明視野光学像図4aインセット示す。発光一部軸方向伝播し低励起パワーでもナノワイヤ末端放出、ドープCdSナノワイヤ優秀光導波路特性示す。インシチュ発光色黄緑、長距離伝送後末端発光色赤(図4a)。PanらSe高濃度ドープCdS 1Dナノ構造で距離別発光色変化報告、組成と結晶度変化によるバンドテイルシフト起因と帰属[28]。実際電子-フォノン結合増強効果無視不能。現在Sn低濃度ドープCdSナノワイヤで発光色変化理由は不純物トラップ励起子とc軸沿い光伝送中増強e-p結合由来。図4bは遠方場励起パワー依存PL。509 nm発光近バンドギャップ発光帰属、低エネルギー他広発光バンドトラップ状態発光帰属。すべて発光バンド強度励起パワー増加で急増、近バンドギャップ発光のみトラップ状態発光よりわずか速い増加。伝統的ディープトラップ状態では近バンドギャップ発光強度が励起パワー増加で大幅増加する現象と異なる。隣接トラップ状態バンド間エネルギースパン: 229.7, 239.8, 267.3, 268.3, 277, 318.6, 312.1, 300.6 cm−1、長波数側へわずか増加しLOフォノンエネルギー(296 cm−1)接近。多フォノンプロファイルがトラップ状態非線形e-p結合示唆[29]。トラップ励起子光伝送中コヒーレンス保持、ドープSnイオン散乱しコヒーレント発光。エネルギースパンLOフォノンエネルギーからわずか偏差は光通過距離増加起因、ディープトラップ状態不完全局在化示唆。これら励起子は2D閉じ込めナノ構造直線上整列好み、結合し新励起子凝集形成。凝集自体励起子間非線形相関表現、巨大振動子強度生成、非線形光学応答導く[30, 31]。不完全ナノ材料で豊富不純物/欠陥存在時、不純物/欠陥誘起結晶変形が電子-フォノン結合著しく改変、近バンドギャップ発光追加nLOフォノン支援発光誘起常[32-34]。多フォノン発光プロファイルはシリカファイバー高次刺激ラマンプロセス類似、差異は発光バンド実在状態寄与。多重フォノン散乱プロセス数(n)がポラロン結合係数α比例報告、最大周波数シフトnωLOが変形エネルギー(0.5 αhωLO)比例[35]。したがって現在PLスペクトルがSn-CdSナノワイヤ巨大変形ポテンシャルと強力電子-フォノン結合示唆。

Sn(IV)ドープCdSナノワイヤにおけるフォトルミネッセンスと電子-フォノン結合強化:ドーパント濃度の影響
a 単一SnドープCdSナノワイヤ遠方場発光像。インセット対応単一ナノワイヤ明視野光学像。スケールバー20 μm。b 励起パワー増加下遠方場PLスペクトル。インセット不純物発光バンド局所拡大

CdSナノワイヤドープSn(IV)濃度が前駆体SnO2対CdS比増加で上昇、近バンドギャップ発光大幅弱化、不純物発光強化の類似PLスペクトル生成(図5)。図4bと異なり、近バンドギャップ対トラップ状態発光強度比が可変励起パワーで0.05–0.10に低下。トラップ状態発光強度が励起パワー増加で近バンドギャップ発光より速く上昇、不純物とフォノンによる相対的強い散乱実証。隣接不純物バンド間エネルギースパン: 272.7, 325, 324, 311.9, 364.3, 372.6, 309.1, 297.1, 371.5, 375.4, 410.7, 387.1 cm−1、LOフォノンエネルギー(296 cm−1)接近。大きい偏差が活性導波路段階的励起反映、より多くSnイオンナノワイヤドープし強力電子-フォノン結合生成実証。

Sn(IV)ドープCdSナノワイヤにおけるフォトルミネッセンスと電子-フォノン結合強化:ドーパント濃度の影響
a Sn(IV)高濃度わずかドープCdSナノワイヤ遠方場発光像。インセット光学形態像。スケールバー20 μm。b 対応遠方場PLスペクトル励起パワー増加下

SnドープCdSナノワイヤ別興味深いPLスペクトル(図6)。より高ドーピング濃度ナノワイヤで近バンドギャップ発光非常に弱く、トラップ状態発光支配的役割。隣接不純物発光バンド間エネルギースパン: 488, 581.9, 655.4, 683.3, 683.8 cm−1、わずか増加し2LOフォノンエネルギー(592 cm−1)接近。2LOフォノン支援発光強度が励起パワー増加で顕著増加。2LOフォノン支援発光出現が強い電子-2LOフォノン結合示唆、強い2LOラマンモード示すラマン散乱スペクトル(図3)と良好整合。この興味深い現象通常概念明確理解不能。縦光学モードが1ピコ秒内電子結合報告[23]。高ドーピング状況Sn-Snペア形成時、電子-1LOフォノン結合が束縛位置バイポラロニック励起子様束縛ペア導く可能性。バイポラロニック励起子(電子-2LOフォノン)状態がコヒーレント発光、長寿命トラップセンター多発、1LO支援発光バンド長距離伝送と短時間緩和後良好分離不能。したがって2LO支援発光が高濃度ドーピングナノワイヤ支配可能。更ドーピング更異常現象誘発。構造転位開始、立方相形成可能性。図6d更Sn(IV)濃度増加ドープナノワイヤ類似PLスペクトル示す。530 nmと541 nm発光バンドそれぞれウルツァイトと亜鉛ブレンド相CdS近バンドギャップ発光帰属可能[36]。エネルギー差ΔEWZ-ZB現在0.048 eV、WZとZB CdSバンドギャップエネルギー差0.1 eV未満事実と一致[37, 38]。より重要: 隣接トラップ状態発光バンドエネルギースパン値: 1100.2, 1230.6, 1218.7 cm−1、4LOフォノンエネルギー(1184 cm−1)接近。オーバートン効果がSn-CdSナノワイヤ高次電子-フォノン結合示唆。

Sn(IV)ドープCdSナノワイヤにおけるフォトルミネッセンスと電子-フォノン結合強化:ドーパント濃度の影響
a, c 高ドーパント濃度CdSナノワイヤ遠方場発光像と光学像(インセット)。スケールバー20 μm;b, d 対応遠方場PLスペクトル

異なる発光メカニズム調査ため、ps染料N2パルスレーザー400 nm励起で近バンドギャップ発光とトラップ状態発光PL崩壊測定実施(図7)。近バンドギャップ発光520 nm位置、ディープトラップ発光550–750 nm範囲中心609 nm(図7a)、SNOM単一ナノワイヤPLと一致。520 nmと609 nm, 625 nm, 640 nm寿命崩壊プロファイル図7b, c示す。520 nmと609 nm崩壊時間多指数関数フィット、時定数: 0.3227 ns(22.90%), 4.2585 ns(25.86%), 26.4584 ns(35.31%), 289.1292 ns(15.92%)と0.1309 ns(60.41%), 0.6641 ns(8.39%), 24.8286 ns(20.86%), 194.1492 ns(10.35%)。640 nm, 625 nm, 609 nmバンドPL寿命ほぼ同一プロファイルと寿命パラメータ示す。前報告[18]と対照的。純粋CdSナノワイヤ異なる励起パワー下エネルギー緩和プロセスは電子-フォノンと励起子-励起子相互作用のみ経験。SnドープCdSナノワイヤではディープトラップ状態と空洞効果等他相互作用も緩和プロセス参加。崩壊プロセス模式図図7d示す。トラップ内帯電キャリアと励起子共存、励起後高延長バンドから伝導帯端緩和、多く不純物状態バンドギャップ内トラップ。これら異なる不純物準位或ペア状態準位キャリア間相互作用も励起子再結合関与、観察異なる崩壊寿命対応活性光学空洞発光。部分キャリアが1ディープトラップレベル散乱外出し、再び低トラップレベルトラップ(図7d (1)–(4)再結合プロセス)。バンドギャップ発光では0.3227 ns等高速時定数がキャリア直接再結合対応、他時定数が束縛励起子放射再結合(4.2585 ns)と不純物エネルギーバンド価電子帯間浅トラップキャリア(数十–数百ns)対応可能性。トラップ状態発光では<1 ns極短寿命と他成分が豊富キャリア-キャリア、キャリア-フォノン相互作用反映、トラップ状態典型的特徴実証。

Sn(IV)ドープCdSナノワイヤにおけるフォトルミネッセンスと電子-フォノン結合強化:ドーパント濃度の影響
a 400 nm波長パルスレーザー励起Sn-CdSナノワイヤPL。b, c 520 nmと609, 625, 640 nm対応PL寿命崩壊プロファイル。d 異なる寿命崩壊プロセス持つキャリア模式図

結論

要約: 単純熱蒸着法で高品質SnドープCdSナノワイヤ合成、興味深い光学特性実証。XRDとラマン散乱スペクトルでSn(IV)がCdSナノワイヤへ成功ドープ確認。単一ドープナノワイヤで近バンドギャップ発光とトラップ状態発光同時観察。トラップ状態発光対近バンドギャップ発光更分析で非線形電子-フォノン結合示唆。可変Snドーパント濃度ドープCdSナノワイヤで明確分離多フォノンレプリカ(1LO, 2LO, 4LO)支援発光バンド観察、電子-フォノン結合増強と顕著トラップ状態実証。寿命崩壊が多成分緩和示唆、光生成キャリア可変再結合チャネル反映。SnドープCdSナノワイヤが発光デバイスとナノフォトニクスシステム潜在応用見出す可能性。

データおよび資料の入手可能性

現在研究使用/分析データセットは対応著者から合理的要請ベースで入手可能。

略語

PL:
フォトルミネッセンス
1D:
1次元
EHP:
電子-正孔プラズマ
F-P:
ファブリペロ
SCCM:
標準立方センチメートル/分
VLS:
気液固

ナノマテリアル

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